Dimansyon sèvis
Ki ap dirije chip, ki ap dirije bracket, ki ap dirije adezif anbalaj, keratin an ajan, fil lyezon, ki ap dirije pèl (COB, LAMP, TOP, CHIP), ki ap dirije aparèy ekleraj, ekipman pou pouvwa chofè aparèy ekleraj.
Estanda tès yo
- GB/T15651-1995 Aparèy Semiconductor, Aparèy Disrè, ak Sikui entegre: Aparèy Optoelektwonik (Estanda Nasyonal)
- GB7000 seri estanda nasyonal pou aparèy ekleraj (obligatwa)
- GB7000.5 Kondisyon sekirite pou wout ak lari ekleraj enstalasyon
- GB/T9468-1988 Tès Luminaires pou ekleraj wout
- GB/T9468-2008 Kondisyon Jeneral pou Mezi Luminesans Distribiye nan Luminaires
- GB/T5700-2008 "Metòd mezi ekleraj" estanda
Atik tès yo
(1)Ki ap dirije tès analiz echèk: analiz pri, analiz konkiran, analiz echèk.
(2) Tès atik: Tès konduktiviti tèmik, tès paramèt foto-elektrik, tès hermeticity, deteksyon eleman polisyon sispèk, tès kalite materyèl tankou materyèl sele plastik, kouch ajan plating, substrats kwiv, fil lyezon, elatriye.
(3) Mòd echèk: vulkanizasyon, gout elektwòd, flit, sou estrès aktyèl, lyezon nòmal, kouch nòmal, diminye adezyon anbalaj, ak diminye kapasite dissipation chalè.
Kalifikasyon
TALAN

Fòs nou yo
Lè w fè tès pou aje anviwònman an sou divès kalite dirije ak analize kòz rasin anomali bon jan kalite, GRGT te akimile done ki pi konplè debaz yo nan jaden ki ap dirije a, ede antrepriz yo fè.Dirije analiz echèkbaze sou mekanis echèk ak gide amelyorasyon pwodwi ak amelyore.
Baj popilè: dirije analiz echèk, Lachin dirije echèk analiz founisè sèvis





